?我們工作中看到的掃描儀成為平板式掃描儀，根據(jù)GB/T 18788-2008《平板式掃描儀通用規(guī)范》，平板式掃描儀需要做環(huán)境測試，下面我們來看看相關(guān)的環(huán)境測試規(guī)范有哪些要求。

平板式掃描儀的環(huán)境試驗規(guī)范如下：

1.工作溫度下限：
平板式掃描儀樣品須進行初始檢測，放入恒溫恒濕試驗箱，并設(shè)置溫度10℃，試驗持續(xù)2 h，恢復時間為6h，進行最后檢測。

2.貯存運輸溫度下限：
樣品放入恒溫恒濕試驗箱，并設(shè)置試驗箱溫度-25℃，受試樣品在不工作條件下存放16 h，恢復時間為6h，進行最后檢測。

3.工作溫度上限：
平板式掃描儀須進行初始檢測，放入恒溫恒濕試驗箱，并設(shè)置溫度35℃，試驗持續(xù)2 h，恢復時間為6h，進行最后檢測。

4.貯存運輸溫度上限：
樣品放入恒溫恒濕試驗箱，并設(shè)置試驗箱溫度55℃，受試樣品在不工作條件下存放16 h，恢復時間為6h，進行最后檢測。

5.工作條件下恒定濕熱：
樣品須進行初始檢測，放入試驗箱中，設(shè)置試驗箱溫度35℃，濕度80%RH，選取。加電運行試驗持續(xù)2h，在此期間加電進行掃描，工作應(yīng)正常。恢復時間為2 h，進行最后檢測。

6.貯存運輸條件下恒定濕熱：
平板式掃描儀的初始檢測如上述試驗，試驗箱取溫度40℃，相對濕度93%。受試樣品在不工作條件下存放48 h，恢復時間為2h，進行最后檢測。